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M.2是基于PCI Express總線的物理接口標(biāo)準，兼顧高帶寬、低延遲、小尺寸等特性，是高性能緊湊型設(shè)備首選的擴展方案。目前主流應(yīng)用包括：

■ NVMe SSD（PCIe 4.0/5.0）：支持高達16GB/s的讀寫速率，是現(xiàn)代計算平臺的標(biāo)配存儲方案；

■ 無線網(wǎng)卡（Wi-Fi 6/6E/7）：廣泛用于筆記本、工控終端；

■ AI加速器、數(shù)據(jù)采集卡：小型推理計算模塊或高速接口擴展。

然而，隨著M.2接口被用于更高代際（PCIe Gen4 / Gen5）的高速信號傳輸，電氣驗證測試的復(fù)雜度急劇上升。

盡管M.2基于PCIe協(xié)議棧，但其測試卻并不像CEM標(biāo)準卡（Add-In Card）那樣擁有詳盡的參考資料和成熟生態(tài)。主要挑戰(zhàn)包括：

目前PCI-SIG協(xié)會未發(fā)布統(tǒng)一的Gen4/Gen5 M.2測試夾具規(guī)范，市場上缺乏權(quán)威參考。

不同尺寸（2230/2242/2280）和Key Type（M, B, A+E）接口的測試夾具能否通用？向下兼容問題常引發(fā)誤測或測試盲區(qū)。

測試通道與Add-in Card (CEM) 在鏈路拓撲、阻抗匹配、回環(huán)方式等方面存在差異，直接套用標(biāo)準CEM測試流程容易失真

高達32 GT/s的PCIe Gen5信號使得傳統(tǒng)眼圖測試已無法滿足評估精度，需要引入誤碼率分析（BER）、等效時鐘恢復(fù)（CDR）等機制。

在實際客戶調(diào)測M.2接口時，我們經(jīng)常被問到這些關(guān)鍵問題：

需根據(jù)模塊尺寸、通道數(shù)、協(xié)議代際（Gen3/4/5）選擇匹配的探測夾具；部分高頻夾具需支持可調(diào)等長線對。

信號測試點、通道長度、參考時鐘方式均有差異，需進行測試信道差異分析與S參數(shù)仿真比對。

某些模塊支持回環(huán)，但多數(shù)實際測試依賴 BER儀+探頭鏈路；推薦進行外部誤碼儀接入。

可結(jié)合抖動測試、通道S參數(shù)、插損、回損、散射參數(shù)（S21）進行建模與眼圖仿真分析。

建議使用實時示波器+誤碼儀聯(lián)合測試，滿足32GT/s BER<1e-12 的要求。

?  高速測試夾具選型支持

支持多種M.2 form factor、Gen4/5速率、Key類型接口，兼容主流SSD/Wi-Fi模塊。

?  鏈路誤碼率測試

配合泰克BERTScope或自帶BER仿真模塊的實時示波器，實現(xiàn)M.2高速通道誤碼率和抖動分析。

?  實時眼圖 & PHY驗證

通過6系/7系高帶寬MSO示波器與TekExpress PCIe軟件，自動完成PHY級眼圖與一致性分析。

?  定制化仿真/測試協(xié)助

提供測試點S參數(shù)提取、IBIS-AMI建模、通道均衡與CTLE/DFE優(yōu)化建議，支持高頻誤差源定位。