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關(guān)于Thermal EMMI
深圳市萬博儀器儀表有限公司| 2025-01-15|返回列表

  熱發(fā)射顯微鏡(Thermal EMMI)系統(tǒng)是通過接收故障點(diǎn)產(chǎn)生的熱輻射異常來定位故障點(diǎn)位置,當(dāng)被測物體高于絕對(duì)零度時(shí),會(huì)不斷向外輻射電磁波,系統(tǒng)利用紅外探測器和光學(xué)成像物鏡接受被測目標(biāo)的紅外輻射能量分布圖形,并將其反映到紅外探測器的光敏元件上,從而獲得紅外熱像圖。這種熱像圖與物體表面的熱分布場相對(duì)應(yīng),從而實(shí)現(xiàn)對(duì)故障點(diǎn)的精確定位。


  我們自主研發(fā)的Thermal EMMI系統(tǒng),集成了多項(xiàng)高端技術(shù)組件,包括高靈敏度的紅外相機(jī)、多種倍率可選的顯微鏡鏡頭以及精確的高低壓源表等。這些組件共同賦予了該系統(tǒng)超凡的靈敏度、高精度的溫度測量能力以及無損故障定位的特性。在半導(dǎo)體芯片、先進(jìn)封裝技術(shù)、功率電子器件以及印刷電路板(PCB)等領(lǐng)域的失效分析過程中,Therma EMMI系統(tǒng)發(fā)揮著舉足輕重的作用,它不僅能夠快速準(zhǔn)確地定位故障點(diǎn),還能有效提升產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,是電子工業(yè)中不可或缺的精密檢測工具。


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