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　　系統(tǒng)概述:

　　SP26D系列是新銳中科公司結(jié)合泰克的產(chǎn)品特點和優(yōu)勢，開發(fā)出的滿足IEC60747-8/9、JESD2標(biāo)準(zhǔn)的半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)分析系統(tǒng)。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設(shè)計、PCB設(shè)計等需要半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)的場景所遇到的困難。特別對于第三代半導(dǎo)體的測試，LET2000D有著較高的系統(tǒng)帶寬和測試精度，可以有效準(zhǔn)確的測量出實際的器件參數(shù)。

　　系統(tǒng)組成:

　　新銳中科動態(tài)參數(shù)分析儀，主要包括PC、示波器、低壓源、高壓直流源、探頭以及相關(guān)測試配件等構(gòu)成。SP26D半導(dǎo)體測試系統(tǒng)采用12bit示波器，可正確反應(yīng)波形細(xì)節(jié)和參數(shù)的準(zhǔn)確計算，且具備高帶寬的電壓和電流探測特點，能滿足SiC/GaN的測量要求，同時可以滿足上/下管測試要求，可避免頻繁連接探頭。該系統(tǒng)測量參數(shù)齊全，且支持多種器件類型。